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三温测试分选机SLN-WWS-002系列● 兼容DC~50GHZ射频芯片在-70℃~+180℃温度下测试分选； ● 预温仓可选择预温时间及线性温变速率，温度可独立控制； ● 采用空气式及接触式双温度传导模式，实现低温快速到温； ● 对于大功率发热产品可实时补温； ● 视觉系统、运动系统均处于常温环境，保障设备不间断稳定运行； ● 产品低温测试时在抓取、转运、测试等过程中无结霜结露现象； ●可实现芯片信息（代号、批次号、序列号）自动识别存储，测试数据统计追溯； ●可兼容双面BGA接口产品的测试； ● 模块化设计，可配置温循功能、多工位测试、更低温度定制； 
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