从半导体自动化测试撬动更广泛应用场景，ADI多款创新方案树立电子测试测量技术标杆

“工欲善其事，必先利其器”。科学史上的许多重大突破，往往源于新的观测手段和测量技术的进步。在现代电子工业中，半导体器件作为核心组件，其性能和可靠性直接决定了最终产品的品质和功能，对这些器件进行精确全面的测试测量变得尤为重要。近日在行业重磅展会上，全球领先的半导体公司ADI在现场带来了仪器仪表应用领域的一系列创新方案，如ADI仪器仪表事业部高级市场经理姜海涛所表示，这些板卡级方案以高精度、小型化以及易于集成的优势，契合客户痛点，是新时代电子测试测量的标杆样本。

在电子测试测量领域，半导体自动化测试系统能够对芯片进行大规模、高精度的测试，涵盖从晶圆到最终封装的各个环节，是确保电子器件能够满足严格规范的关键工具。随着AI、5G通信、物联网、汽车电子等市场的蓬勃发展，对半导体器件的需求量大幅增加，也进一步推高了对高效、精确的自动化测试解决方案的需求。据QYResearch调研团队报告显示，预计2030年全球半导体自动测试设备市场规模将达到89.7亿美元，未来几年年复合增长率CAGR为7.2%。

    “半导体自动化测试设备无论是实现模拟、数字、分立器件抑或是RF测试等场景，在更高精度、更快测试速度和更大灵活性背后，反映出的都是对其核心测量方案更高性能的共性要求。”姜海涛表示这正是ADI强大的精密信号链与仪器仪表技术能发挥的优势所在。

      另一方面，半导体自动化测试市场竞争还体现在设备的延展性上，测试机的测试覆盖范围越广，能够测试的项目越多，就越受客户青睐。姜海涛表示，集成化的自动化测试系统能够在单一平台上完成多项测试任务，减少了设备间的切换时间和复杂性，对于测试单元实现方案的小型化与拓展性就更为看中。此外，能够提供可定制化的解决方案，或根据具体应用场景进行功能性调整，以满足多样化的测试需求，也是客户看重的关键因素之一。“面对半导体自动化测试领域的种种挑战，ADI仪器仪表测试测量方案不仅在性能上表现出色，还具备高度的灵活性和易扩展性，能轻松融入客户的现有系统之中，成为众多高端测试设备制造商的优选。”姜海涛自信地表示。

兼具高精度与高集成度，打造电子测试测量的创新标杆

       在半导体自动化测试系统中，高保真信号发生器通常用于生成各种模拟和数字信号，包括正弦波、方波、脉冲波等，提供非常纯净和稳定的信号输出，以确保测试的一致性和可重复性，或通过模拟真实环境中的噪声干扰，评估器件在恶劣条件下的性能，如测试振荡器等器件的频率稳定性等。采集测量模块则用于捕捉被测设备的响应信号，并将其转换成数字数据供后续处理，通常需要具备高速采样率和高分辨率，以保证测试数据的质量。

      据姜海涛介绍，基于ADMX1001 和 ADMX1002 的超低失真波形发生器和采集模块最大的特点便是在非常小的体积上集成了高保真的信号发生和采集功能——ADMX100x 采用专有的数字预失真 (DPD) 算法，可实现优异的总谐波失真 (THD) 性能，具有出色的信号保真度与低噪声性能，专为高分辨率测试精心设计，可与ADC、音频编码解码器和复杂的音频系统无缝集成。“该模块在1KHz实现了-130 dB THD，能对标标准信号源输出的精度，在精密的ADC测量以及一些音频测量方面具有广泛的应用，但更具备小型化特征，非常容易集成到客户的设备中，直接通过SPI接口和标准API函数进行调用，极大地简化了集成过程。